激光测厚仪是由上下两个对射的激光位移传感器组成，其基本测量原理如图所示：

  图1中激光位移传感器1和激光位移传感器2以固定间距A相对布置，工作时激光位移传感器1发射一束激光照射被测物的下表面

，下表面光斑的漫反射光再通过透镜系统返回到激光移位传感器1内的CCD或CMOS芯片上，通过对CCD或CMOS芯片上光斑的位置分析

计算，可以得到激光位移创拿起1到被测物上下表面的实际距离B1;

  同理，可以得到激光位移传感器2到被测物上表面的距离B2。用两个传感器之间的间距A减去两个传感器到被测物上下表面的

距离B1、B2即可得到被测物的厚度H。

  图2所示，位移传感器下方设置一个托板，用传感器测出托板与传感器的间距L0，当托板上方防止被检测物时，可用传感器测

得被测物与传感器的间距L1。

  将L0和L1的新号传输到计算机内装的测量系统后，即可计算(L0-L1)得出被测物的厚度H。在实际应用中，L0的数值将直接写

入测量系统(系统还知道L0的校零功能)，在被测物放置到托板上后即可得出被测物的厚度。


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